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日立熱場掃描電鏡SU7000
日立熱場掃描電鏡SU7000
型    號:SU7000
所屬分類:場發射掃描電鏡
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日立熱場掃描電鏡SU7000
SU7000采用全新設計的探測器,使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。SU7000通過新研發的樣品倉以及檢測器系統,可在不改變WD的條件下更高效地接收各種信號,縮短了樣品觀察和分析的時間,提高了測試效率。它還標配超大樣品倉,增設了附件接口,可適用于各種樣品的觀察與分析。

日立熱場掃描電鏡SU7000產品概述:

日立熱場掃描電鏡SU7000

日立熱場掃描電鏡SU7000
SU7000采用全新設計的探測器,使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。SU7000通過新研發的樣品倉以及檢測器系統,可在不改變WD的條件下更高效地接收各種信號,縮短了樣品觀察和分析的時間,提高了測試效率。它還標配超大樣品倉,增設了附件接口,可適用于各種樣品的觀察與分析。

SU7000采用全新設計的探測器,使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。SU7000通過新研發的樣品倉以及檢測器系統,可在不改變WD的條件下更高效地接收各種信號,縮短了樣品觀察和分析的時間,提高了測試效率。它還標配超大樣品倉,增設了附件接口,可適用于各種樣品的觀察與分析。

日立熱場掃描電鏡SU7000
主要特點:
 

  1. 在相同WD的條件下,可同時實現二次電子、背散射電子觀察與X射線分析

  2. 多可同時實現6通道檢測與顯示

  3. 可配置18個附件接口


應用領域:
 

金屬

復合材料

半導體器件

EBSP分析

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