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電子及電氣元件高低溫低氣壓試驗
電子及電氣元件高低溫低氣壓試驗
詳情說明 / Details

 1、引言

    1.1目的

    用以確定元件和材料在低氣壓下耐電擊穿的能力;確定密封元件耐受壓力差不破壞的能力;檢驗元件工作特性在低氣壓下受到的影響及低氣壓下的其它效應;有時候可用于確定機電元件的耐久性。

    1.2應用

    本標準是常溫條件下的低氣壓試驗。若裝置元件的設備將在低溫低氣壓及高溫低氣壓的綜合條件下貯存和使用,而且能夠斷定高低溫和壓力的綜合作用是造成其失效的主要原因,常溫低氣壓試驗不能使用時,則應進行溫度一壓力綜合環境試驗。

    2、試驗條件

    2.1試驗壓力

    有關標準應從下表中選取試驗壓力等級。

5.jpg


    2.2壓力容差

    按GJB360.1-87《電子及電氣元件試驗方法總則》中 4.4條C的規定。

    2.3試驗時間

    若無其它規定,試驗樣品在低氣壓條件下的試驗時間,可從下列數值中選取:

    3、對試驗設備的要求

    3.1高低溫低氣壓試驗箱應滿足第2章規定的試驗條件。

    3.2高低溫低氣壓試驗箱應有觀察窗和接線柱,以便觀察和測量電性能。

    3.3高低溫低氣壓試驗箱應有壓力指示器,以便測量箱內壓力。

    3.4 應注意避免試驗箱的輔助裝置,如泵的工作液蒸氣及試驗箱附件(閥、絕緣物)釋放的蒸氣產生污染。壓力恢復正常時,應注意避免空氣帶入灰塵或水氣污染試驗樣品。

    4、試驗程序

    4.1 預處理

    試驗樣品應在試驗的標準大氣條件下至少保持20min或按有關標準的規定。

    4.2初始檢測

    按有關標準規定,對試驗樣品進行外觀檢查、電性能和機械性能檢測。

    4.3試驗

    4.3.1對試驗期間不要求檢測性能的試驗樣品,應在不包裝、不通電和“準備使用”狀態按其正常工作位置放入具有試驗的標準大氣條件的高低溫低氣壓試驗箱內;對于試驗期間要求檢測性能的試驗樣品,應接好電負載及其它測試儀表。并且進行檢查,以確定試驗樣品是否具有有關標準規定的性能。然后,按有關標準規定的時間接通或關閉電源。

    4.3.2若無其它規定,以不大于10kPa/min的降壓速率將試驗箱內壓力降到有關標準規定的值。

    4.3.3在此壓力下保持有關標準規定的時間。

    4.3.4若需要,按有關標準的規定進行中間檢測。

    4.3.5若無其它規定,以不大于10kPa/min的升壓速率使高低溫低氣壓試驗箱內壓力恢復到正常值。

    4.4 恢復

    若無其它規定,試驗樣品應在試驗的標準大氣條件下保持1~2h。

    4.5最后檢測

    按有關標準的規定,對試驗樣品進行外觀檢查、電性能和機械性能檢測。

    5、失效判據

    由有關標準規定。

    6、采用本標準時應規定的細則

    a.試驗壓力等級代號(見2.1條);

    b.試驗時間(見2.3條);

    c.預處理(見4.1條);

    d.初始檢測(見4.2條);

    e.安裝方式和試驗樣品狀態(見4.3. 1款);

    f.低氣壓條件下進行中間檢測時所需的條件、其它參數(如試驗電壓、加電壓時間)和檢測項目(見4.3. 1款);

    g. 最后檢測(見4.5條);

    h.失效判據(見第5章)。


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